Built-In Self-Test

Beim BIST wird mit Hilfe von rückgekoppelten Signalführungen auf der Zielhardware die Funktion überwacht. Hierbei unterscheidet man die Tests, die in der Initialisierungsphase ausgeführt werden (s.g. initial tests) und solche die begleitend zur normalen Funktion arbeiten (s.g. run time tests).

Der Nachteil besteht in den hohen Stückkosten, da die Rückkopplung der Signale in der Regeln zusätzliche Hardwarekomponenten erfordern.